Semiconductor wafer with low-k dielectric layer and process for fabrication thereof

WO2006102926 Art A1 5. Oktober 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006102926
Aktenzeichen
EP05738365
Anmeldetag
31. März 2005
Veröffentlichung
5. Oktober 2006
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/311H01L21/26H01L21/312H01L21/316
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Freescale Semiconductor Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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