Cantilever for scanning probe microscope and scanning probe microscope equipped with it

WO2006106818 Art A1 12. Oktober 2006

Anmelder: Japan Science and Technology Agency, SII NanoTechnology Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006106818
Aktenzeichen: EP06730596
Anmeldetag: 30. März 2006
Veröffentlichung: 12. Oktober 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01N13/16G01N13/14G01N13/24G12B21/02G12B21/06G12B21/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Japan Science and Technology Agency
SII NanoTechnology Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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