Transitional dielectric layer to improve reliability and performance of high dielectric constant transistors

WO2006107383 Art A2 12. Oktober 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006107383
Aktenzeichen: EP06720062
Anmeldetag: 1. Februar 2006
Veröffentlichung: 12. Oktober 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H01L29/78H01L21/469

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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