An integrated circuit and a method for designing a boundary scan super-cell

WO2006117588 Art A1 9. November 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006117588
Aktenzeichen: EP05739729
Anmeldetag: 4. Mai 2005
Veröffentlichung: 9. November 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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