Tft array substrate inspecting apparatus

WO2006120861 Art A1 16. November 2006

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006120861
Aktenzeichen: EP06745518
Anmeldetag: 20. April 2006
Veröffentlichung: 16. November 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G01N21/956G01N23/225G01R31/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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