Electronic part test device and method for controlling temperature in electronic part test device
WO2006123404
Art A1
23. November 2006
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006123404
- Aktenzeichen
- EP05741544
- Anmeldetag
- 17. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 23. November 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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