Surface defect inspection device

WO2006126596 Art A1 30. November 2006

Anmelder: Olympus Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006126596
Aktenzeichen: EP06746800
Anmeldetag: 24. Mai 2006
Veröffentlichung: 30. November 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01N21/84

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Olympus Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Olympus

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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