Polishing composition and method for defect improvement by reduced particle stiction on copper surface

WO2006132905 Art A2 14. Dezember 2006

Anmelder: CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2006132905
Aktenzeichen
EP06771812
Anmeldetag
2. Juni 2006
Veröffentlichung
14. Dezember 2006
Rechtsraum
WO
IPC
C09G1/02H01L21/321
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Cabot Microelectronics

Cabot Microelectronics war ein US-amerikanischer Hersteller von Polierchemikalien für die Halbleiterfertigung und ist heute Teil von Entegris. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Farben, Klebstoffe und Brennstoffe sowie Halbleiterbauelemente, mit Bezug zur Werkzeug- und Fertigungstechnik. Die Anmeldungen bis 2019 betreffen unter anderem CMP-Zusammensetzungen für die Chip-Planarisierung.

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