Delay circuit, testing apparatus, timing generator, test module and electronic device

WO2006134837 Art A1 21. Dezember 2006

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006134837
Aktenzeichen: EP06766518
Anmeldetag: 9. Juni 2006
Veröffentlichung: 21. Dezember 2006
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/13G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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