Tft substrate inspecting apparatus

WO2006134888 Art A1 21. Dezember 2006

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2006134888
Aktenzeichen: EP06757269
Anmeldetag: 13. Juni 2006
Veröffentlichung: 21. Dezember 2006
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G02F1/13

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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