Quality degradation portion deducing system and quality degradation portion deducing method
WO2006137373
Art A1
28. Dezember 2006
Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2006137373
- Aktenzeichen
- EP06766937
- Anmeldetag
- 20. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2006
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L12/56
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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