Contactor, contact structure with the contactor, probe card, testing device, contact structure producing method, and contact structure producing apparatus

WO2007000799 Art A1 4. Januar 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007000799
Aktenzeichen: EP05765166
Anmeldetag: 27. Juni 2005
Veröffentlichung: 4. Januar 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/073H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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