Semiconductor logic circuit device test vector generation method and test vector generation program

WO2007013306 Art A1 1. Februar 2007

Anmelder: Kyushu Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007013306
Aktenzeichen: EP06781018
Anmeldetag: 12. Juli 2006
Veröffentlichung: 1. Februar 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kyushu Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kyushu Institute of Technology

Das Kyushu Institute of Technology ist eine japanische staatliche Technische Universität mit Standorten in Kitakyushu und Iizuka. Das Patentportfolio verteilt sich über Halbleiterbauelemente, Mess- und Prüftechnik sowie Software und Medizintechnik. Die Anmeldungen aus den Jahren 2005 bis 2025 betreffen unter anderem Potentialdifferenzmessgeräte und Farbstoff-Peptid-Komplexe.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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