Semiconductor distance measuring element and solid-state imaging device

WO2007026777 Art A1 8. März 2007

Anmelder: National University Corporation Shizuoka University, Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007026777
Aktenzeichen: EP06797101
Anmeldetag: 30. August 2006
Veröffentlichung: 8. März 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01S17/10G01S17/89G01C3/06H01L27/146

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National University Corporation Shizuoka University
Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Shizuoka University

Die National University Corporation Shizuoka University ist eine staatliche japanische Universität mit Sitz in der Präfektur Shizuoka, bekannt für Forschung an bildgebenden Halbleitersensoren. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2000 bis 2024 ab.

256 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.800 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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