Semiconductor device inspecting apparatus and power supply unit

WO2007029422 Art A1 15. März 2007

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007029422
Aktenzeichen: EP06781259
Anmeldetag: 19. Juli 2006
Veröffentlichung: 15. März 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/312G01R1/067

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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