Detecting degradation of components during reliability-evaluation studies

WO2007030323 Art A2 15. März 2007

Anmelder: SUN MICROSYSTEMS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007030323
Aktenzeichen: EP06813667
Anmeldetag: 22. August 2006
Veröffentlichung: 15. März 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/00G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SUN MICROSYSTEMS, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Sun Microsystems

Ehemaliger US-amerikanischer Hersteller von Servern, Workstations und Software, bekannt unter anderem für die Programmiersprache Java und das Betriebssystem Solaris. Das Unternehmen wurde 2010 von Oracle übernommen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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