Film forming apparatus, evaporating jig and measuring method
WO2007034790
Art A1
29. März 2007
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY, TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007034790
- Aktenzeichen
- EP06810272
- Anmeldetag
- 19. September 2006
- Veröffentlichung
- 29. März 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23C14/24C23C14/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOHOKU UNIVERSITY
TOKYO ELECTRON LIMITED - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
837 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
2.414 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
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