Semiconductor Fabrication Process Including Silicide Stringer Removal Processing
WO2007037881
Art A2
5. April 2007
Anmelder: Freescale Semiconductor 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007037881
- Aktenzeichen
- EP06813834
- Anmeldetag
- 29. August 2006
- Veröffentlichung
- 5. April 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/3205
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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