Semiconductor chip with amorphous crack-stop layer
WO2007049087
Art A1
3. Mai 2007
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007049087
- Aktenzeichen
- EP05819729
- Anmeldetag
- 24. Oktober 2005
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L23/00H01L23/29H01L21/314
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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