Connecting device, iddq test method and semiconductor integrated circuit

WO2007049331 Art A1 3. Mai 2007

Anmelder: Renesas Technology Corp. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007049331
Aktenzeichen: EP05805258
Anmeldetag: 25. Oktober 2005
Veröffentlichung: 3. Mai 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Renesas Technology Corp.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Renesas Technology

Renesas Technology war ein japanischer Halbleiterhersteller und Vorgängerunternehmen der heutigen Renesas Electronics. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Software, ergänzt um Datenspeicher- und Schaltungstechnik. Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2009.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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