Testing apparatus, clock generating apparatus and electronic device
WO2007049365
Art A1
3. Mai 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007049365
- Aktenzeichen
- EP05844198
- Anmeldetag
- 28. Dezember 2005
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03K5/156
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.