Semiconductor wafer manufacturing method and semiconductor wafer cleaning method
WO2007049435
Art A1
3. Mai 2007
Anmelder: Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007049435
- Aktenzeichen
- EP06811180
- Anmeldetag
- 4. Oktober 2006
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/304
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shin-Etsu Handotai Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shin-Etsu Handotai
Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.
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