Array for detecting gene mutation and detection method

WO2007055244 Art A1 18. Mai 2007

Anmelder: National University Corporation Nagoya University, NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007055244
Aktenzeichen: EP06823184
Anmeldetag: 8. November 2006
Veröffentlichung: 18. Mai 2007
Rechtsraum: WO
IPC: C12N15/09C12Q1/68G01N37/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National University Corporation Nagoya University
NGK Insulators, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Nagoya University

Japanische staatliche Universität mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, unter anderem bekannt für Arbeiten zu LED-Technologie. Trägerin zahlreicher Patente aus Universitätsforschung in Japan.

702 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 NGK Insulators

Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.

3.021 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Pharma & Biotechnologie

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