Semiconductor memory test apparatus with error classification means and related test method
WO2007063784
Art A1
7. Juni 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007063784
- Aktenzeichen
- EP06833331
- Anmeldetag
- 20. November 2006
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/56
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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