Probe pin, probe card, and probe device
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED, The University of Tokyo 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007066643
- Aktenzeichen
- EP06833987
- Anmeldetag
- 5. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 14. Juni 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOKYO ELECTRON LIMITED
The University of Tokyo - Land
- 🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.
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