Testing apparatus, adjusting apparatus, adjusting method and adjusting program
WO2007072738
Art A1
28. Juni 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007072738
- Aktenzeichen
- EP06834725
- Anmeldetag
- 14. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 28. Juni 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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