Method for manufacturing curvature distribution crystal lens, polarization control device, x-ray reflectance measuring device, and x-ray reflectance measuring method
WO2007072906
Art A1
28. Juni 2007
Anmelder: Kyoto University, TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007072906
- Aktenzeichen
- EP06842999
- Anmeldetag
- 21. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 28. Juni 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G21K1/06G01N23/201
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Kyoto University
TOHOKU UNIVERSITY - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kyoto University
Renommierte japanische Universität mit breiter Grundlagenforschung in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
1.706 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
837 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.