Ion Scattering Spectroscopic Analyzer

WO2007074696 Art A1 5. Juli 2007

Anmelder: Riken 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007074696
Aktenzeichen: EP06835030
Anmeldetag: 20. Dezember 2006
Veröffentlichung: 5. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/203

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Riken
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

1.684 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von