Cmos device with asymmetric gate strain
WO2007075755
Art A2
5. Juli 2007
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007075755
- Aktenzeichen
- EP06845878
- Anmeldetag
- 18. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 5. Juli 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/28H01L21/336H01L29/423H01L29/49
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
3.194 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.