An X-Ct Scan System

WO2007076681 Art A1 12. Juli 2007

Anmelder: Tsinghua University, Nuctech Company Limited 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007076681
Aktenzeichen: EP06828332
Anmeldetag: 14. Dezember 2006
Veröffentlichung: 12. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: A61B6/03G01N23/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Tsinghua University
Nuctech Company Limited
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

1.696 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

814 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von