Measuring device, measuring method and testing device

WO2007077686 Art A1 12. Juli 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007077686
Aktenzeichen: EP06832771
Anmeldetag: 16. November 2006
Veröffentlichung: 12. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R25/00H04J1/00H04J11/00H04J15/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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