Characterization of three-dimensional distribution of defects by x-ray topography

WO2007078023 Art A1 12. Juli 2007

Anmelder: Postech Foundation, Postech Academy-Industry- Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007078023
Aktenzeichen: EP06700344
Anmeldetag: 6. Januar 2006
Veröffentlichung: 12. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Postech Foundation
Postech Academy-Industry- Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Postech Academy-Industry Foundation

Die Postech Academy-Industry Foundation ist die Technologietransferstelle der südkoreanischen Universität POSTECH mit Sitz in Pohang. Die Patente stammen aus Forschungsprojekten in Materialwissenschaft, Elektronik und Chemie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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