Methof for controlling synchrotron grazing incidence x-ray scattering apparatus

WO2007078085 Art A1 12. Juli 2007

Anmelder: Postech Academy-Industry- Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007078085
Aktenzeichen: EP06835469
Anmeldetag: 27. Dezember 2006
Veröffentlichung: 12. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/71

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Postech Academy-Industry- Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Postech Academy-Industry Foundation

Die Postech Academy-Industry Foundation ist die Technologietransferstelle der südkoreanischen Universität POSTECH mit Sitz in Pohang. Die Patente stammen aus Forschungsprojekten in Materialwissenschaft, Elektronik und Chemie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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