Electronic component testing apparatus and electronic component testing method
WO2007083356
Art A1
26. Juli 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007083356
- Aktenzeichen
- EP06711837
- Anmeldetag
- 17. Januar 2006
- Veröffentlichung
- 26. Juli 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.