Circuit element, scan circuit, boundary scan circuit, scan test method and method for detecting fault location in scan circuit

WO2007083381 Art A1 26. Juli 2007

Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007083381
Aktenzeichen: EP06712037
Anmeldetag: 20. Januar 2006
Veröffentlichung: 26. Juli 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185G01R35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FUJITSU LIMITED
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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