Probe card, probe card manufacturing method and probe card repairing method
WO2007086144
Art A1
2. August 2007
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007086144
- Aktenzeichen
- EP06712608
- Anmeldetag
- 30. Januar 2006
- Veröffentlichung
- 2. August 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/073
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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