Ring oscillating circuit, delayed time measuring circuit, test circuit, clock signal generating circuit, image sensor, pulse generating circuit, semiconductor integrated circuit and its testing method

WO2007088672 Art A1 9. August 2007

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007088672
Aktenzeichen: EP06833744
Anmeldetag: 30. November 2006
Veröffentlichung: 9. August 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/02G01R31/28H03K3/03

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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