Method Of Detecting Defects in an Integrated Circuit

WO2007093193 Art A1 23. August 2007

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc., Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007093193
Aktenzeichen: EP06723587
Anmeldetag: 16. Februar 2006
Veröffentlichung: 23. August 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20G03F1/14

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Freescale Semiconductor, Inc.
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.

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