Electronic device testing apparatus and electronic device testing method

WO2007097087 Art A1 30. August 2007

Anmelder: Nippon Light Metal, Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007097087
Aktenzeichen: EP06833639
Anmeldetag: 29. November 2006
Veröffentlichung: 30. August 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G01R29/08G01R29/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nippon Light Metal, Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nippon Light Metal

Nippon Light Metal ist ein japanischer Hersteller von Aluminiumprodukten. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Metallurgie und Oberflächentechnik, ergänzt um Halbleiterbauelemente. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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