Semiconductor device having stressors and method for forming
WO2007097814
Art A2
30. August 2007
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007097814
- Aktenzeichen
- EP06850115
- Anmeldetag
- 8. November 2006
- Veröffentlichung
- 30. August 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/94
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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