Phase Lock-In Type High-Frequency Scanning Tunnel Microscope
WO2007102324
Art A1
13. September 2007
Anmelder: Osaka Industrial Promotion Organization, Osaka University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007102324
- Aktenzeichen
- EP07714883
- Anmeldetag
- 23. Februar 2007
- Veröffentlichung
- 13. September 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N13/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Osaka Industrial Promotion Organization
Osaka University - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Osaka University
Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
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