Method for measuring state of fine particles by dielectric migration
WO2007105578
Art A1
20. September 2007
Anmelder: Cluster Technology Co., Ltd, Osaka University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007105578
- Aktenzeichen
- EP07715300
- Anmeldetag
- 1. März 2007
- Veröffentlichung
- 20. September 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/00G01N27/447
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Cluster Technology Co., Ltd
Osaka University - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Osaka University
Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
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