Semiconductor integrated circuit and method for testing same

WO2007108289 Art A1 27. September 2007

Anmelder: National University Corporation Chiba University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007108289
Aktenzeichen: EP07737554
Anmeldetag: 28. Februar 2007
Veröffentlichung: 27. September 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Chiba University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Chiba University

National University Corporation Chiba University ist die staatliche Trägerorganisation der japanischen Chiba-Universität mit Sitz in der Präfektur Chiba. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik sowie Pharma und Biotechnologie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik und organische Chemie. Anmeldungen erfolgen seit 2005 bis in die Gegenwart.

393 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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