Testing apparatus, memory device and testing method

WO2007108400 Art A1 27. September 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007108400
Aktenzeichen: EP07738717
Anmeldetag: 15. März 2007
Veröffentlichung: 27. September 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28G11C29/12H01L21/822H01L27/04H03K19/177

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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