Contactless method of measuring an optogeometrical characteristic of a material by interference spectroscopy
WO2007110395
Art A1
4. Oktober 2007
Anmelder: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007110395
- Aktenzeichen
- EP07727307
- Anmeldetag
- 23. März 2007
- Veröffentlichung
- 4. Oktober 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
CEA (Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives)
Französisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Paris (Verwaltung) und Standorten wie Grenoble und Saclay. Forscht in Kernenergie, erneuerbaren Energien, Mikroelektronik, Werkstoffwissenschaften, Verteidigungstechnik und Informationstechnologien.
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