Method of substrate treatment, process for producing semiconductor device, substrate treating apparatus, and recording medium
WO2007111126
Art A1
4. Oktober 2007
Anmelder: Tokyo Electron Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2007111126
- Aktenzeichen
- EP07738447
- Anmeldetag
- 13. März 2007
- Veröffentlichung
- 4. Oktober 2007
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/304H01L21/306H01L21/3065H01L21/768
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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