Variable delay circuit, testing apparatus and electronic device

WO2007114379 Art A1 11. Oktober 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007114379
Aktenzeichen: EP07740676
Anmeldetag: 30. März 2007
Veröffentlichung: 11. Oktober 2007
Rechtsraum: WO
IPC: H03K5/13G01R31/3183H03K5/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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