Test apparatus and test method

WO2007116535 Art A1 18. Oktober 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007116535
Aktenzeichen: EP06747221
Anmeldetag: 1. Juni 2006
Veröffentlichung: 18. Oktober 2007
Rechtsraum: WO
IPC: H04B1/62G01R31/02H03M1/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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