Test system of reconfigurable device and its method and reconfigurable device for use therein

WO2007119300 Art A1 25. Oktober 2007

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007119300
Aktenzeichen: EP07715103
Anmeldetag: 1. März 2007
Veröffentlichung: 25. Oktober 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G01R31/28G06F11/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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