Semiconductor distance-measuring element and solid-state imaging element

WO2007119626 Art A1 25. Oktober 2007

Anmelder: National University Corporation Shizuoka University, Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2007119626
Aktenzeichen: EP07740711
Anmeldetag: 30. März 2007
Veröffentlichung: 25. Oktober 2007
Rechtsraum: WO
IPC: G01S17/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: National University Corporation Shizuoka University
Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Shizuoka University

Die National University Corporation Shizuoka University ist eine staatliche japanische Universität mit Sitz in der Präfektur Shizuoka, bekannt für Forschung an bildgebenden Halbleitersensoren. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2000 bis 2024 ab.

256 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.800 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von